国家知识产权局信息显示，甬江实验室、甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司、上海微谱检测科技集团股份有限公司取得一项名为“一种XRD样品盘”的专利，授权公告号CN223870570U，申请日期为2025年1月。

　　专利摘要显示，本实用新型公开了一种XRD样品盘，包括样品盘底座；所述样品盘底座的内部开设有内槽，所述内槽的上表面固定有固定件，所述固定件用于限制单晶硅片与硅片基底的组合件突出于所述样品盘底座的上表面。本实用新型通过固定条可限制单晶硅片的高度，并压紧片状样品，使样品测试面与样品盘底座的高度平齐，更加有利于后续的测试，可有效提高测试精度，并在后续取下固定条后，更便于取下样品。

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